| Bildiri Türü | Tebliğ/Bildiri | Bildiri Dili | İngilizce |
| Bildiri Alt Türü | Tam Metin Olarak Yayınlanan Tebliğ (Uluslararası Kongre/Sempozyum) | ||
| Bildiri Niteliği | Web of Science Kapsamındaki Kongre/Sempozyum | ||
| DOI Numarası | 10.1007/3-540-46117-5_134 | ||
| Kongre Adı | Field-Programmable Logic and Applications | ||
| Kongre Tarihi | 01-06-2002 / 03-06-2002 | ||
| Basıldığı Ülke | Almanya | Basıldığı Şehir | |
| Bildiri Linki | http://link.springer.com/10.1007/3-540-46117-5_134 | ||
| UAK Araştırma Alanları |
Mühendislik
|
||
| Özet |
| In this paper, we propose an approach to test generation based on reconfigurable devices, emulators, and Field Programmable Gate Arrays (FPGA). This approach is based on automatically designing a circuit which implements the D-algorithm specialized for the circuit under test. This approach exploits fine-grain parallelism in the forward/ backward implications, and conflict checking. In this paper, we show an implementation with a lower hardware overhead than previous approaches making this technique more attractive. |
| Anahtar Kelimeler |
| Atıf Sayıları | |
| Web of Science | 1 |
| Google Scholar | 2 |